不同视角 SEM 表征与数据分析—飞纳电镜 MAPS 开启科学新视界

飞纳电镜持续创新 系列一

01

“你这个位置是哪里拍的？其他位置什么情况？整个样品上裂纹的走势是什么样的？”

作为失效工程师，收到老板或同事的灵魂拷问，是不是常常让你头疼？

02

“你这个太局部了，不具有代表性，其他位置什么情况？”

明明是供应商产品的问题，但强势的甲方的诡辩总让你无奈不已？

03

“小张，我要整个组织切片的全貌，请确保拍下来。”

导师的要求太天真，臣妾做不到？

别担心，飞纳电镜 MAPS 系统帮你解决这些问题！

2024 年，飞纳发布数据采集及阅读系统Phenom MAPS。该系统不仅改变了数据存储的方式，还为 SEM 表征与数据分析开启了“上帝视角”，帮您轻松掌握每一个细节，不再需要费力解释。

今天，我们来详细了解一下这款为科学家们提供“上帝视角”的飞纳电镜 MAPS 系统。

No。1 ：多图层数据采集及阅读系统

“人如其名”，MAPS 是地图的意思，该系统会像地图一样，通过层级的方式，实现对样品的拍摄与数据回看。Phenom MAPS 提供的是一个涵盖所有样品信息的数码存档，从全面（宏观）到具体（微观）无所不包，改变了传统扫描电镜的分析与数据存储模式。并且，多图层数据可以包含能谱。

No.2 ：大面积成像拼接，wan全无痕！

大面积成像拼接，万全无痕

No.3：大面积能谱分析，地质行业zui爱！

这里是一个地质样品的能谱拼图结果，Phenom MAPS 可以实现对整个样品的能谱采集，导出任意拼接的原始能谱数据，以方便进行离线分析。

No.4 ：CISA，关联一切可视化图片

光镜、拉曼、红外、XPS，甚至 CAD 或手绘草图，通通可以关联。下图案例：通过 MAPS CISA，将 SEM 和 XPS 面分布以及全谱分析的功能相结合，分析多孔砂粒子的表面组成和形貌。

通过结合 XPS 和 SEM 的分析，可以精确地将化学信息与显微镜提供的高分辨率结构信息融合。CISA 关联工作流程尤其适用于研究电池、高分子材料、催化剂和金属等样品的材料研究。

总结

飞纳电镜 MAPS 系统不仅是一个自动化的图像、能谱采集工具，更是一个数码存档和关联数据分析平台。通过地图化的多层级扫描电镜和能谱数据采集及关联系统，为您提供多模态的“上帝视角”，全面掌握显微镜数据，不再错过任何细节。

“

下期预告

新品发布会直播预告

飞纳电镜将在第十届电子显微学网络会议，重磅发布新产品以及应用案例！

iCEM 2024

“第十届电子显微学网络会议（iCEM 2024）”结合目前电子显微学主要仪器技术及应用热点，邀请业界电子显微学专家、电子显微学仪器技术专家、电子显微学应用专家等，重点邀请近来有重要工作成果进展的优秀青年学者代表线上分享精彩报告。

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